X射線熒光光譜是一種常用的光譜技術，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。具有不破壞樣品，準確度高，分析速度快，能測定固體、粉末和液體樣品，能適用于常量和微量元素測定等優點，被人們廣泛的重視利用。

ThermoScientific Niton XL2 800 手持式X射線熒光光譜儀是具有革命性突破的元素分析儀器，它集速度，準確，可靠為一體，加上硬件，軟件，直接的行業經驗，只要簡單的扣下扳機，會滿足你特定的檢測要求。